四探針電(diàn)阻率檢測儀 型号:SB100A/2
由于金屬塊體(tǐ)材料的電(diàn)阻和金屬薄膜的電(diàn)阻很低,他們的測量采用四端接線法。爲了滿足實際的需要,本儀器采用四探針法原理來實現對不同金屬、半導體(tǐ)、導電(diàn)高分(fēn)子材料的電(diàn)阻及電(diàn)阻率的測量。可用于高校物(wù)理教育實驗,對導體(tǐ)/半導體(tǐ)/金屬薄膜材料的電(diàn)阻 及電(diàn)阻率的測試及研究。本産品的電(diàn)阻測量範圍可達10-6—106Ω。
(使用環境5—40℃,相對濕度<80%,供電(diàn)220V 50Hz,爲實驗室環境使用)
SB100A/2由SB118直流電(diàn)壓電(diàn)流源、PZ158A直流數字電(diàn)壓表、SB120/2四探針樣品測試平台三部分(fēn)組成。
lSB118直流電(diàn)壓電(diàn)流源:是一(yī)台4½位的電(diàn)壓源及電(diàn)流源,既可輸出5µV—50V,5檔可調電(diàn)壓,基本誤差爲±(0.1%RD+0.02%FS)又(yòu)可輸出1nA—100mA,5檔可調電(diàn)流,基本誤差爲
±(0.03%RD+0.02%FS)詳見本公司産品SB118。
l PZ158A直流數字電(diàn)壓表:具有6½位字長,0.1μV電(diàn)壓分(fēn)辨力的帶單片危機處理技術的高精度電(diàn)子測量儀器,可測量0-1000V直流電(diàn)壓。基本量程的基本誤差爲±(0.002%RD+0.0005%FS),詳見本公司産品PZ158A。
l SB120/2四探針樣品測試平台:該測試平台是SB120/1測試平台的改進型。其有底座、支架、旋動部件、樣品平台、四探針及接線闆等組成。由于其整個結構及旋動方式都在原SB120/1的基礎上作了很大(dà)的改進,故在高校的物(wù)理實驗及科學研究總爲導體(tǐ)/半導體(tǐ)/金屬薄膜材料的電(diàn)阻和電(diàn)阻率的測試、研究提供了較大(dà)的方便。