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瞬态平面熱源法導熱儀

瞬态平面熱源法導熱儀

簡要描述:瞬态平面熱源法導熱儀 型号:TCDR-S

一(yī)、産品簡介
TCDR-S是利用瞬态平面熱源技術(TPS)開(kāi)發的導熱系數測試儀,可用于各種不同類型材料的熱傳導性能的測試。瞬态平面熱源法是研究熱傳導性能方法中(zhōng)的一(yī)種,它使測量技術達到了一(yī)個全新的水平。在研究材料時能夠快速準确的測量熱導率,爲企業質量監控、材料生(shēng)産以及實驗室研究提供了的方便。該儀器操作方便,方法簡單易懂,不會對被測樣品造成

産品型号: TCDR-S

所屬分(fēn)類:專業儀器

更新時間:2023-11-12

廠商(shāng)性質:其他

詳情介紹
品牌其他品牌加工(gōng)定制
産品名稱:瞬态平面熱源法導熱儀
産品型号:TCDR-S

瞬态平面熱源法導熱儀 型号:TCDR-S

一(yī)、産品簡介 
      TCDR-S是利用瞬态平面熱源技術(TPS)開(kāi)發的導熱系數測試儀,可用于各種不同類型材料的熱傳導性能的測試。瞬态平面熱源法是研究熱傳導性能方法中(zhōng)的一(yī)種,它使測量技術達到了一(yī)個全新的水平。在研究材料時能夠快速準确的測量熱導率,爲企業質量監控、材料生(shēng)産以及實驗室研究提供了的方便。該儀器操作方便,方法簡單易懂,不會對被測樣品造成損壞。 

二、工(gōng)作原理  
      瞬态平面熱源技術(TPS)是用于測量導熱系數的一(yī)種新型的方法,由瑞典Chalmer理工(gōng)大(dà)學的Silas Gustafsson教授在法的基礎上發展起來的。它測定材料熱物(wù)性的原理是基于無限大(dà)介質中(zhōng)階躍加熱的圓盤形熱源産生(shēng)的瞬态溫度響應。利用熱阻性材料做成一(yī)個平面的探頭,同時作爲熱源和溫度傳感器。合金的熱阻系數一(yī)溫度和電(diàn)阻的關系呈線性關系,即通過了解電(diàn)阻的變化可以知(zhī)道熱量的損失,從而反映了樣品的導熱性能。該方法的探頭即是采用導電(diàn)合金經刻蝕處理後形成的連續雙螺旋結構薄片,外(wài)層爲雙層的絕緣保護層,厚度很薄,它令探頭具有一(yī)定的機械強度并保持與樣品之間的電(diàn)絕緣性。在測試過程中(zhōng),探頭被放(fàng)置于樣品中(zhōng)間進行測試。電(diàn)流通過探頭時,産生(shēng)一(yī)定的溫度上升,産生(shēng)的熱量同時向探頭兩側的樣品進行擴散,熱擴散的速度依賴于材料的熱傳導特性。通過記錄溫度與探頭的響應時間,由數學模型可以直接得到導熱系數。 

三、測試對象 
      金屬、陶瓷、合金、礦石、聚合物(wù)、複合材料、紙(zhǐ)、織物(wù)、泡沫塑料(表面平整的隔熱材料、闆材)、礦物(wù)棉、水泥牆體(tǐ)、玻璃增強複合闆CRC、水泥聚苯闆、夾心混凝土、玻璃鋼面闆複合闆材、紙(zhǐ)蜂窩闆、膠體(tǐ)、液體(tǐ)、粉末、顆粒狀和膏狀固體(tǐ)等等,測試對象廣泛。 

四、儀器特點 
1、儀器參考标準:ISO 22007-2 2008 
2、測試範圍廣泛,測試性能穩定; 
3、直接測量,測試時間5-160s左右可設置,能快速準确的測出導熱系數,節約了大(dà)量的時間; 
4、不會和靜态法一(yī)樣受到接觸熱阻的影響; 
5、無須特别的樣品制備,對樣品形狀并無特殊要求,塊狀固體(tǐ)隻需相對平滑的樣品表面并且滿足長寬至少爲探頭直徑的兩倍即可; 
6、對樣品實行無損檢測,意味着樣品可以重複使用; 
7、探頭采用雙螺旋線的結構進行設計,結合專屬數學模型,利用核心算法對探頭上采集的數據進行分(fēn)析計算; 
8、樣品台的結構設計巧妙,操作方便,适合放(fàng)置不同厚度的樣品,同時簡潔美觀; 
9、探頭上的數據采集使用了進口的數據采集芯片,該芯片的高分(fēn)辨率,能使測試結果更加準确可靠; 
10、主機的控制系統使用了ARM微處理器,運算速度比傳統的微處理器快,提高了系統的分(fēn)析處理能力,計算結果更加精确; 
11、儀器可用于塊狀固體(tǐ)、膏狀固體(tǐ)、顆粒狀固體(tǐ)、膠體(tǐ)、液體(tǐ)、粉末、塗層、薄膜、保溫材料等熱物(wù)性參數的測定; 

五、技術參數:      
測試範圍:0.005—300 W/(m*K) 
測量樣品溫度範圍:室溫—130℃ 
探頭直徑:一(yī)号探頭7.5mm;二号探頭15mm 
精度:±3% 
重複性誤差:≤3% 
測量時間:5~160秒 
電(diàn)源:AC 220V 
整機功率:﹤500w 
樣品溫升﹤15℃ 
測試樣品功率P: 一(yī)号探頭功率0樣品規格:一(yī)号探頭所測單個樣品(15*15*3.75mm) 
                二号探頭所測單個樣品 (30*30*7.5mm) 
注:1号探頭所測的是厚度較薄的低導材料。如所測樣品表面光滑平整且具有粘性可将樣品進行疊加

 



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