微量進樣器/平頭微升微量進樣器/微升微量進樣器 型号:TC-011872
微量進樣器可供科研.化工(gōng).煉油.醫院等單位作分(fēn)析使用。特别适宜作氣相色譜儀.液相色譜儀液體(tǐ)進行分(fēn)析,是一(yī)種*的精密器械。其總容量誤差±5%。氣密性能承受0.2mpa。爲了達到延長進樣器的使用壽命,進樣器分(fēn)爲無存液與有存液兩種,現将使用中(zhōng)應注意事項作以下(xià)說明:
一(yī).0.5 µL-5µL無存液微量進樣器
微量進樣器/平頭微升微量進樣器/微升微量進樣器 1.切忌重堿性溶液洗滌,以免玻璃受腐蝕失重和不鏽鋼零件受腐蝕損壞而引起漏水漏氣。
2.本進樣器是無存液之進樣器。芯子(不鏽鋼絲)直接通到針*,故而不會出現寄存溶量,但使用後應立即清潔處理,避免芯子受污而卡死。
3.溶量指示芯子拉動不得過AG圖案,若不慎拉過圖案和全部拉出外(wài)套而塞不進,可重新裝配,但裝配時必須先旋出針尖螺母,再耐心地把芯子(不鏽鋼絲)先從矽橡膠墊圈中(zhōng)心穿過,再對準針尖孔,慢(màn)慢(màn)旋上針尖螺母,再推進芯子,不準直接串入,以免不鏽鋼絲折彎。
4.本進樣器的氣密性依靠針尖部位的矽橡膠墊圈密封。故使用時期較長後,墊圈易損或老化會影響氣密性,必須進行調換,否則,将會影響容量精度和重複性。
5.本進樣器的針尖不得在400℃以上的高溫下(xià)工(gōng)作,更不宜用火(huǒ)直接燒,以免針尖退火(huǒ)而失去(qù)穿戳能力。
二.10 µL-100µL有存液微量進樣器
1.切忌重堿性溶液洗滌,以免玻璃受腐蝕失重和不鏽鋼零件受腐蝕而影響漏水漏氣。
2.本進樣器系有存液之進樣器,因而在吸取溶液時針尖管浸在溶液中(zhōng)來回拉幾次,将針尖内的氣泡排出(使用時必須排盡全部氣泡),使用者必須注意,否則将會影響分(fēn)析正确性和容量精度。
3.進樣器針尖爲固定式,不得拆下(xià)。針尖内孔爲微小(xiǎo),因此不宜吸取有較粗懸浮物(wù)質的溶液。使用後應立即清潔處理,防止針尖堵塞。
4.若遇針尖堵塞,宜用φ0.1mm不鏽鋼絲耐心串通,不能用火(huǒ)直接燒,防止針尖受高熱而退火(huǒ)失去(qù)穿戳能力。
5.本進樣器不得在芯.套之間濕度不足時(将幹未幹時)将芯子多次來回拉動,以免發生(shēng)卡住和磨損而造成損壞。
6.如發現進樣器内有不鏽鋼氧化物(wù)(發黑現象)影響正常使用時,可在不鏽鋼芯子上蘸少量肥皂水塞入進樣器内,來回來幾次,就可去(qù)掉,而再洗清後即可
産品名稱:膠質層指數測定儀 膠質層指數檢測儀 産品型号:GZY-4B |
膠質層指數測定儀 膠質層指數檢測儀型号: GZY-4B
本系列設備主要用于煤焦化多種指标的測定,均符合标準
GZY-4B型 膠質層指數測定儀
本測定儀是用來測定煙煤的膠質層指數的儀器,符合GB/T 479-2000标準。本測定儀能自動控制兩爐爐溫,并繪出動态控溫曲線,能自動記錄和計算兩爐煤杯内煤樣體(tǐ)積變化曲線和終收縮度X值,并能計算出膠質層大(dà)厚度Y值。
·計算機控制系統
·試驗爐體(tǐ)
·部件 ·打印機(選配)
産品名稱:塗層測厚儀 産品型号:TC-1250 |
塗層測厚儀 型号:TC-1250
應用範圍
本儀器采用磁性測厚法,可以方便無損的測量鐵磁性材料上的非磁性材料塗層的厚度,如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等塗層的厚度。該儀器廣泛應用于機械、汽車(chē)、造船、石油、化工(gōng)、電(diàn)鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業。
三、技術參數
性能/型号 | TC-1250 | |
測量範圍(um) | 0-1250 | |
測量誤差(um) | <3%+1 | |
小(xiǎo)示值(um) | 0.1 | |
顯示方式 | 7位液晶數字顯示 | |
主要功能 | 測量 | 單探頭全量程測厚 |
存儲 | 可存入測量數據800個 | |
讀 | 讀出已存入測量數據 | |
統計 | 顯示已存數據小(xiǎo)值、平均值、大(dà)值 | |
校正 | 配機标準試片校正 | |
提示/報警 | 1、蜂鳴器對操作提示 2、低電(diàn)壓指示 | |
電(diàn)源 | 3.6V電(diàn)池一(yī)節 | |
功耗 | 大(dà)功耗100mW | |
外(wài)形尺寸 | 128×62×26mm | |
重量 | 150g | |
使用環境 | 溫度:-10℃~+40℃ 相對濕度:≤90% | |
基體(tǐ)小(xiǎo)厚度 | 0.2mm | |
基體(tǐ)小(xiǎo)平面 | 7mm×7mm | |
小(xiǎo)曲率半徑 | 凸:1.5mm 凹:6mm |
注意:臨界厚度小(xiǎo)于工(gōng)件鐵基厚度大(dà)于1mm時,其膜層厚度的測量不受鐵基厚度影響。
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